當(dāng)前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > 光譜分析測(cè)試 > 熒光光譜/熒光壽命 > 數(shù)字化深能級(jí)瞬態(tài)譜儀DLTS
簡(jiǎn)要描述:半導(dǎo)體技術(shù)的一個(gè)重要目標(biāo)是減少所有構(gòu)成半導(dǎo)體器件中,晶體和非晶層中固有的和因生產(chǎn)工藝引起的缺陷。雜質(zhì)、晶界、晶面等引起的缺陷會(huì)導(dǎo)致陷阱的產(chǎn)生,陷阱可以俘獲自由電子和空穴。即使?jié)舛确浅5?,陷阱也能ji大地改變半導(dǎo)體器件的性能。數(shù)字化深能級(jí)瞬態(tài)譜儀DLTS是現(xiàn)在一種非常通用的技術(shù),可用于測(cè)定與陷阱相關(guān)的幾乎所有參數(shù),包括密度、熱界面(熱發(fā)射率)、能級(jí)和空間剖面等。
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
Related Articles詳細(xì)介紹
半導(dǎo)體技術(shù)的一個(gè)重要目標(biāo)是減少所有構(gòu)成半導(dǎo)體器件中,晶體和非晶層中固有的和因生產(chǎn)工藝引起的缺陷。雜質(zhì)、晶界、晶面等引起的缺陷會(huì)導(dǎo)致陷阱的產(chǎn)生,陷阱可以俘獲自由電子和空穴。即使?jié)舛确浅5?,陷阱也能ji大地改變半導(dǎo)體器件的性能。數(shù)字化深能級(jí)瞬態(tài)譜儀DLTS是現(xiàn)在一種非常通用的技術(shù),可用于測(cè)定與陷阱相關(guān)的幾乎所有參數(shù),包括密度、熱界面(熱發(fā)射率)、能級(jí)和空間剖面等。
主要特點(diǎn)
●快速而靈敏地檢測(cè)半導(dǎo)體中的電活性缺陷
●高靈敏度:體陷阱檢測(cè)限< 109 atoms/cm3;
●具有低至3微秒的快速響應(yīng)時(shí)間
●具有對(duì)過(guò)載的快速恢復(fù)能力以及對(duì)泄露電流的高免疫能力
●快速溫度掃描能力:每8分鐘100K且不影響靈敏度
●高達(dá)60dB的背景電容抑制能力度
●數(shù)字采集包括:16位分辨率,1毫秒的采樣增量,50倍的時(shí)間跨度,和不限平均點(diǎn)數(shù)的平均瞬態(tài)
●單次溫度掃描可同時(shí)記錄不同發(fā)射率窗下的8幅譜圖
數(shù)字化深能級(jí)瞬態(tài)譜儀DLTS主要應(yīng)用
●PN結(jié) ●肖特基二極管
●MOS管 ●LED
●場(chǎng)效應(yīng)管 ●半導(dǎo)體激光器
●高電阻率半絕緣材料
產(chǎn)品咨詢
聯(lián)系我們
北京培科創(chuàng)新技術(shù)有限公司 公司地址:北京石景山中海大廈CD座420室 技術(shù)支持:化工儀器網(wǎng)掃一掃 更多精彩
微信二維碼
網(wǎng)站二維碼