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一、光譜分析技術(shù)的基礎(chǔ)理論1.光是由光量子組成的，具有二重性，即不連續(xù)的微粒和連續(xù)的波動性。波長和頻率是光的特征2.光照射到物質(zhì)時，可發(fā)生折射、反射和透射。根據(jù)物質(zhì)結(jié)構(gòu)和含量的不同，可以得當(dāng)不同的吸收光譜和發(fā)射光譜。3.物質(zhì)的吸收光譜取決于物質(zhì)的結(jié)構(gòu)，包括分子吸收光譜和原子吸收光譜。分子吸收光譜包括電子、振動和轉(zhuǎn)動這三種光譜。原子吸收光譜通常是線狀光譜，只包括外層電子躍遷吸收的能量，位于光譜的紫外區(qū)和可見光區(qū)。4.物質(zhì)的發(fā)射光譜有三種：線狀光譜、帶狀光譜及連續(xù)光譜。線狀光譜由...

由于鎢燈絲電鏡相對透射電鏡來說真空度低、電子束流大。因此鎢燈絲電鏡的燈絲壽命仍相對較短，一般只有幾十個小時。燈絲壽命短直接帶來儀器運(yùn)行成本增加、有效運(yùn)行時間降低、污染增加，儀器性能降低等等不良后果。實(shí)際工作中應(yīng)通過采取一些措施可延長燈絲使用壽命：1.準(zhǔn)確對中燈絲安裝更換新燈絲時仍需檢查燈絲的對中情況，將安裝好的燈絲組件放在解剖鏡下再檢查一下，看燈絲是否居中，否則很容易導(dǎo)致燈絲亮度偏暗，而由此操作者又會增加偏壓或電流來提高亮度，損傷燈絲。2.適當(dāng)增加燈絲高度燈絲工作時發(fā)射電子束...

實(shí)際使用中，傅立葉變換拉曼可以很好地用于常規(guī)分析中，但在日常測量中也存在很多限制：只能使用1064nm近紅外激光，帶來的缺點(diǎn)是：低靈敏度、不適合測量水溶液、不適合測量深色樣品。光學(xué)設(shè)計限制了能夠達(dá)到的空間分辨率（這也是多數(shù)傅立葉變換拉曼光譜儀制造商不使用傅立葉變換拉曼顯微鏡的原因。色散型拉曼系統(tǒng)的優(yōu)勢在于在同一臺儀器上既可以進(jìn)行常規(guī)的分析，又具有進(jìn)行科學(xué)研究的能力，包括:多個激光波長：可以根據(jù)多種樣品的具體情況以及散射性質(zhì)選擇優(yōu)化方案，從而實(shí)現(xiàn)增強(qiáng)靈敏度、控制穿透深度、抑制熒...

鎢燈絲掃描電鏡作為微觀形貌觀察的有力工具，正越來越迅速、廣泛地應(yīng)用于冶金、礦物、化工、醫(yī)藥、生物、食品、納米材料等領(lǐng)域。作為常規(guī)的大型精密分析儀器，鎢燈絲掃描電鏡的燈絲壽命仍相對較短，燈絲壽命短直接帶來掃描電鏡運(yùn)行成本增加、有效運(yùn)行時間降低、污染增加，掃描電鏡性能降低等等不良后果。在實(shí)際工作中，使用者可以通過以下措施來延長燈絲使用壽命。①新燈絲的表面可能吸附一定量的空氣、水汽，當(dāng)它被安裝到電鏡鏡筒里時，會從燈絲表面緩緩釋放，影響鏡筒的真空度，腐蝕燈絲。因此，新燈絲在更換前要先...

掃描電子顯微鏡(簡稱掃描電鏡)是一種大型精密儀器，主要結(jié)構(gòu)包括電子光學(xué)系統(tǒng)、信號收集、圖像顯示和記錄系統(tǒng)、真空系統(tǒng)，是機(jī)械學(xué)、光學(xué)、電子學(xué)、熱學(xué)、材料學(xué)、真空技術(shù)等多門學(xué)科的綜合應(yīng)用。掃描電鏡是一種新型的電子光學(xué)儀器，主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài)，即用極狹窄的電子束去掃描樣品，通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng)，其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。二次電子能夠產(chǎn)生樣品表面放大的形貌像，這個像是在樣品被掃描時按時序建立起來的，即使用逐點(diǎn)成像的方法獲得放大像。掃描...

高光譜遙感圖像和常見的二維圖像不同之處在于，它在二維圖像信息的基礎(chǔ)上添加光譜維，進(jìn)而形成三維的坐標(biāo)空間。如果把成像光譜圖像的每個波段數(shù)據(jù)都看成是一個層面，將成像光譜數(shù)據(jù)整體表達(dá)到該坐標(biāo)空間，就會形成一個擁有多個層面、按波段順序疊合構(gòu)成的三維數(shù)據(jù)立方體。高光譜遙感具有不同于傳統(tǒng)遙感的新特點(diǎn)：（1）波段多——可以為每個像元提供幾十、數(shù)百甚至上千個波段（2）光譜范圍窄——波段范圍一般小于10nm（3）波段連續(xù)——有些傳感器可以再350~2500nm的太陽光譜范圍內(nèi)提供幾乎連續(xù)的地物...

X射線衍射儀XRD是利用X射線在晶體物質(zhì)中的衍射效應(yīng)進(jìn)行物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的技術(shù)。每一種結(jié)晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結(jié)構(gòu)，包括點(diǎn)陣類型、晶面間距等參數(shù)，用具有足夠能量的X射線照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會產(chǎn)生二次熒光X射線（標(biāo)識X射線），晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過測定衍射角位置（峰位）可以進(jìn)行化合物的定性分析，測定譜線的積分強(qiáng)度（峰強(qiáng)度）可以進(jìn)行定量分析，而測定譜線強(qiáng)度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測。X射線同無線電波、可見光、紫外線等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，...